Structural analyses of MBE grown cubic and hexagonal GaN epilayers by X-ray diffraction

K. Balakrishnan, P. Fons, H. Okumura, S. Yoshida

研究成果: Article査読

フィンガープリント

「Structural analyses of MBE grown cubic and hexagonal GaN epilayers by X-ray diffraction」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Material Science

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Physics